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由于多(duō)种原因，SWIR成像仪（短波長(cháng)红外）是监视電(diàn)光成像仪的重要组成部分(fēn)。首先，InGaAs技术的进步使设计成本相对较低的SWIR成像器成為(wèi)可(kě)能(néng)。其次，InGaAs成像仪非常灵敏，即使在漆黑的夜晚也可(kě)以生成观察到的风景图像。第三，与在可(kě)见/近红外波段工作的電(diàn)视摄像机相比，SWIR成像仪更不容易受到恶劣的大气条件的影响。第四，即使使用(yòng)比用(yòng)于热像仪设计的光學(xué)器件小(xiǎo)得多(duō)的光學(xué)元件构建，SWIR成像器也可(kě)以生成高分(fēn)辨率图像。 SWIR成像器通常使用(yòng)观察到的目标反射的辐射来创建这些目标的图像，类似于電(diàn)视摄像机。 SWIR成像仪还可(kě)以使用(yòng)观察到的目标发出的热辐射来创建这些目标的图像，例如热成像仪。由于具有(yǒu)这些功能(néng)，可(kě)以使用(yòng)测试電(diàn)视摄像机的方法或测试热像仪的方法来测试SWIR。 InGaAs FPA的参数也可(kě)用(yòng)于表征SWIR成像仪。

Inframet建议通过以下三种方式来表征SWIR成像仪：a）测量電(diàn)视摄像机的典型参数（分(fēn)辨率，最小(xiǎo)可(kě)分(fēn)辨对比度，MTF，失真，FOV，灵敏度，SNR，等效噪声输入，固定模式噪声，不均匀性），b）测量热成像仪的典型参数（MRT，MDT，MTF，NETD，FPN，不均匀性，畸变，FOV），c）测量InGaAs FPA模块的参数（平均检测度，等效噪声辐照度，动态范围）。

ST测试系统通常是可(kě)变目标测量系统，它使用(yòng)一系列不同的目标将其图像投影到测试的SWIR成像器的方向。成像器会生成投影图像的变形副本。成像仪生成的图像的质量由观察员或软件进行评估，并测量SWIR成像仪的重要特性。ST测试系统由反射式离轴准直仪，宽带光源，中温黑體(tǐ)，電(diàn)动转轮，一组目标，带通滤波器，PC，图像采集卡和测试软件组成。