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Sinton Instruments硅片寿命测试仪WCT-120PL

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产品介绍

WCT-120PL是使用(yòng)光致发光传感器的硅片寿命测试仪。WCT-120PL硅片寿命测试工包含了WCT-120仪器独特的测量和分(fēn)析技术的同时,又(yòu)增加了光致发光(PL) 传感器,以基于PL信号测试寿命和掺杂水平。准稳态导(QSSPC) 寿命测试方法和瞬态光電(diàn)导衰减寿命测试方法都增补了校准的基于PL信号的寿命测试。也可(kě)以简单地将工具作為(wèi)标准的WCT-120使用(yòng)。

性能(néng)特点
  • 一键识别硅片的关键特性
技术参数
  • 产地:美國(guó)
  • 是否进口:是
  • 寿命测量范围:100 ns至大于10 ms
  • 测量(分(fēn)析)模式:QSSPC、瞬态和广义寿命分(fēn)析
  • 传感器區(qū)域:直径40 mm
  • 保修:所有(yǒu)部件和软件的一年有(yǒu)限保修
  • 标准:符合SEMI标准PV-13
  • 环境工作温度:20°C–25°C
  • 尺寸:宽22.5厘米x深28厘米x高57厘米
  • 通用(yòng)電(diàn)源電(diàn)压:100–240 VAC 50/60 Hz
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