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Particle Metrix纳米粒子跟踪分(fēn)析仪ZetaView

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产品介绍

Particle Metrix在其久经验证的平台PMX-x30上提供了ZetaView纳米粒子跟踪分(fēn)析的多(duō)功能(néng)性,使仪器可(kě)以从一个激光器升级到四个激光器。405488520或640nm激光之间以及散射和荧光模式之间的变化是自动的。

在标准NTA或Z-NTA表面電(diàn)荷電(diàn)泳模式中记录发射散射光或荧光的颗粒的运动和图案。PMX-x30系列的新(xīn)设计带有(yǒu)固定单元组件,将增强的性能(néng)和可(kě)靠、无误差的测量与简单、快速、轻松的仪器清洁相结合。

性能(néng)特点
  • 扫描NTA-通过样品池在11个位置进行自动测量,提供稳健的性能(néng),而不需要额外的附件。
  • 固定单元组件设计-大大提高了性能(néng),减少了出错的可(kě)能(néng)性。
  • 自动对准和自动对焦-光學(xué)设置由软件自动优化,节省了用(yòng)户准备仪器使用(yòng)的时间,并消除了用(yòng)户主观输入的偏见。
  • 快速测量-在60秒(miǎo)内分(fēn)析2000多(duō)个颗粒。
  • 快速简单的清洁-样品之间的清洁只需要快速冲洗。新(xīn)的固定单元设计允许使用(yòng)卡口锁快速访问测量单元。
  • 直观的软件-红绿灯系统可(kě)以即时指示样品是否处于适合测量的浓度,并指示样品的稀释系数。
  • 紧凑的一體(tǐ)化设计-使用(yòng)一台仪器测量尺寸、浓度、電(diàn)位和荧光。兼容实验室环境小(xiǎo)占地面积和数据文(wén)件。
  • 荧光分(fēn)析-荧光NTA测量允许询问样品中的亚群體(tǐ)。一个灵敏的CMOS相机,多(duō)达11个选择性滤波器,低漂白性能(néng)产生高荧光灵敏度。
  • 没有(yǒu)高成本耗材,只有(yǒu)注射器和散射和荧光测量的参考标准(如果适用(yòng))。
  • 无需校准-尺寸测量不需要校准。
技术参数

产地:德國(guó)

扫描:電(diàn)动

扫描速度:不到1分(fēn)钟的时间内采集和分(fēn)析2000个粒子

测量:极性液體(tǐ)(如水、醇)中的纳米粒子,用(yòng)于尺寸、浓度、荧光和zeta電(diàn)位研究

浓度范围:105-109粒/毫升

粒度:10nm-2000nm(取决于样品和激光)

精度:+5nm(适用(yòng)于100nm聚苯乙烯胶乳)

再现性:t2nm(适用(yòng)于100nm聚苯乙烯胶乳)

可(kě)用(yòng)激光波長(cháng):405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

典型激光功率:>30mW

相机类型:CMOS

滤波器:11个

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